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高低溫恒溫測試箱

高低溫恒溫測試箱,顧名思義就是一個能夠提供恒定溫度的空間來給試驗產(chǎn)品進行測試,考驗其在高溫或低溫的環(huán)境下的可靠性。

  • 產(chǎn)品型號:TLP系列
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-07-02
  • 訪  問  量:2079
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產(chǎn)品詳情

高低溫恒溫測試箱概述:

可程式高低溫試驗箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應性試驗、低溫恒溫及儲存;可程式高低溫試驗箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應性試驗。

高低溫恒溫測試箱詳細資料:

特點: 

· 高低溫恒溫測試箱采用進口按鍵式溫度控制器,專家PID算法,LCD顯示設定和測量溫度,溫度控制穩(wěn)定可靠,操作簡單,程式編輯容易;

· 高低溫恒溫測試箱的送風循環(huán)系統(tǒng),避免了氣流在箱內(nèi)流通死角,提高了產(chǎn)品溫度均勻度;

· 全封閉進口壓縮機+環(huán)保冷媒+機械式單級/復迭低溫回路系統(tǒng),制冷效果好,可靠性高;

· 完善的安全保護裝置,確保產(chǎn)品的運行更加安全可靠;

· 可程式高低溫試驗箱多樣的溫度控制器可供用戶選擇。

執(zhí)行與滿足標準 

1. GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術條件
2. GB/T11158-1989 高溫試驗箱技術條件
3. GB/T10592-1989 高低溫試驗箱技術條件
4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規(guī)程: 低溫試驗方法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗B規(guī)程: 高溫試驗方法
6. GB/T2423.22-1987試驗Nb溫度變化試驗方法
7. GJB150.3-1986高溫試驗
8. GJB150.4-1986低溫試驗
9. IEC68-2-14 試驗N

用途 

· 高低溫恒溫測試箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應性試驗、低溫恒溫及儲存;

· 高低溫恒溫測試箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應性試驗。

高低溫恒溫測試箱主要參數(shù)介紹:

1.       溫度范圍:-70~150℃(范圍內(nèi)任選)/單獨高溫恒溫箱溫度上限可達300度。

2.       溫度偏差:≤±2.0℃

3.       溫度波動度:≤±0.5℃

4.       內(nèi)箱容積:50~1000L任選,可按要求定做尺寸

5.       采用進口高精度溫度控制儀表(LED或LCD顯示,程序運行與恒定運行任選)

6.       箱體材料為全不銹鋼板或內(nèi)不銹鋼外冷板結(jié)構(gòu)

7.       采用進口壓縮機制冷機組,其余主要制冷配件均為優(yōu)質(zhì)進口件。

8.       設備配置多重保護系統(tǒng),確保產(chǎn)品安全及設備的穩(wěn)定運行

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